飞行时间质谱
外观

飞行时间质谱 (TOFMS) 是一种质谱分析方法。离子在已知强度的电场作用下加速,这一方法通过测量离子的飞行时间来确定其质荷比。[1]反射器可以用于校正离子飞行方向上的动能分布。[2][3]
参考文献
[编辑]- ^ Stephens W. E. A Pulsed Mass Spectrometer with Time Dispersion. Phys. Rev. 1946, 69 (11–12): 691. Bibcode:1946PhRv...69R.674.. doi:10.1103/PhysRev.69.674.2.
- ^ Mamyrin, B. A.; Karataev, V. I.; Shmikk, D. V.; Zagulin, V. A. The mass-reflectron, a new nonmagnetic time-of-flight mass spectrometer with high resolution. Sov. Phys. JETP. 1973, 37: 45. Bibcode:1973JETP...37...45M.
- ^ US 4072862,Mamyrin, Boris A.; Valery I. Karataev & Dmitry V. Shmikk,「Time-of-flight mass spectrometer」,发表于1978-02-07
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