跳转到内容

飞行时间质谱

维基百科,自由的百科全书
(重定向自飞行时间质谱法
20世纪60年代的Bendix MA-2型飞行时间质谱仪

飞行时间质谱 (TOFMS) 是一种质谱分析方法。离子在已知强度的电场作用下加速,这一方法通过测量离子的飞行时间来确定其质荷比[1]反射器英语Reflectron可以用于校正离子飞行方向上的动能分布。[2][3]

参考文献

[编辑]
  1. ^ Stephens W. E. A Pulsed Mass Spectrometer with Time Dispersion. Phys. Rev. 1946, 69 (11–12): 691. Bibcode:1946PhRv...69R.674.. doi:10.1103/PhysRev.69.674.2. 
  2. ^ Mamyrin, B. A.; Karataev, V. I.; Shmikk, D. V.; Zagulin, V. A. The mass-reflectron, a new nonmagnetic time-of-flight mass spectrometer with high resolution. Sov. Phys. JETP. 1973, 37: 45. Bibcode:1973JETP...37...45M. 
  3. ^ US 4072862,Mamyrin, Boris A.; Valery I. Karataev & Dmitry V. Shmikk,「Time-of-flight mass spectrometer」,发表于1978-02-07